18.11.2013

© Verlag Stahleisen GmbH

Besucherrekord beim 9. GE X-ray Forum

Über 150 Röntgen- und Computertomographie-Experten sind der Einladung von GE Inspection Technologies zum diesjährigen 9. GE X-ray Forum nach Hannover gefolgt. Ihnen bot sich eine vielfältige Mischung aus Technologie- und Anwendervorträgen mit interaktiven Tutorials und intensiven praktischen Software- und Systemworkshops einschließlich einer Führung durch das GE Werk Wunstorf. Neben den einführenden Technologiepräsentationen der neuesten GE-Entwicklungen auf dem Gebiet der digitalen Röntgeninspektion, CT- und Detektortechnologie standen zahlreiche Anwendervorträge der Kunden auf dem Programm.


Zwei Themen erzielten dabei besonderes Interesse: ein Vortrag der Berliner Bundesanstalt für Materialprüfung (BAM) über den aktuellen Konversionsprozess von der filmbasierten zur digitalen Radiographie sowie ein Vortrag der Volkswagen AG über die erfolgreiche Implementierung des ersten schnellen speed|scan CT-Systems für die Prozesskontrolle und -optimierung beim Guss von Zylinderköpfen und Zylinderkurbelgehäusen in der Gießerei Hannover.

Weitere Vortragsthemen deckten das Spektrum der hochauflösenden Mikro- und Nanofokus-Röntgeninspektion von Eletronikbauteilen ebenso ab wie neue digitale Inspektionsmöglichkeiten für Öl- und Gaspipelines auf dem Meeresgrund. Im CT-Bereich ging es um die Frage nach der Eignung dieser Technologie in der 3-D-Metrologie, ihren Zeit sparenden und zerstörungsfreien Einsatz in der industriellen Qualitätssicherung etwa von Automobilkomponenten oder in der Turbinenschaufelinspektion. Auch materialwissenschaftliche Fragestellungen und die Untersuchung von Kunstwerken wurden diskutiert.

Abgerundet wurde das Forum durch praxisnahe Tutorials und Workshops. Hier konnten die Teilnehmer nicht nur mit den GE-Technologie- und Anwendungsexperten, sondern auch mit den Anbietern der gängigen 3-D-Auswertungssoftware diskutieren und durch praktische Trainings an Hard- und Software ihr Wissen vertiefen. Den Abschluss der dreitägigen Veranstaltung bildete eine Führung durch das GE-Werk in Wunstorf, in dem die phoenix|x-ray-Computertomographen und Röntgeninspektionssysteme hergestellt werden.

„Die Rekordbesucherzahl von 150 Gästen zeigt die wachsende Bedeutung der digitalen Röntgeninspektion und Computertomographie“, resümierte Juan Mario Gomez, General Manager Radiographie bei GE Inspection Technologies und fuhr fort: “Ausgehend von den Forschungslaboren wandern beide Technologien momentan zunehmend in die Produktionshallen. Darüber hinaus verdeutlicht der Erfolg des 9. GE X-Ray Forums ebenso die große Nachfrage nach digitalen Inspektionslösungen, die traditionelle Methoden – wie beispielsweise Filme bei der Inspektion von Turbinenschaufeln oder Pipelines – immer mehr ersetzen. Bei GE Inspection Technologies beobachten wir nicht nur diesen Trend einer digitalen „Revolution“, sondern freuen uns, ihn mit der ganzen Bandbreite unserer digitalen Inspektionslösungen für unsere Kunden voranbringen zu können.“

www.ge-mcs.com


 


 


 


 


 


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